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SN/T 1151.1-2002 对虾Taura综合征病毒(TSV)逆转录聚合酶链式反应(RT-PCR)诊断方法

作者:标准资料网 时间:2024-05-16 00:47:25  浏览:9943   来源:标准资料网
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基本信息
标准名称:对虾Taura综合征病毒(TSV)逆转录聚合酶链式反应(RT-PCR)诊断方法
英文名称:Test method of reverse transcription polymerase chain reaction (RT-PCR) for tuara syndrome virus (TSV)
中标分类: 农业、林业 >> 水产、渔业 >> 水产、渔业综合
替代情况:被SN/T 1151.1-2011代替
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
发布日期:2002-11-25
实施日期:2003-05-01
首发日期:1900-01-01
作废日期:2011-12-01
起草单位:国家认证认可监督管理委员会
出版日期:1900-01-01
页数:平装16开, 页数:6, 字数:10千字
适用范围

本标准规定了用聚合酶链式反应技术检测对虾Taura综合征病毒的方法。本标准适用于对虾Taura综合征病毒的鉴定及本病的流行病学调查、诊断、检疫和监测。

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所属分类: 农业 林业 水产 渔业 水产 渔业综合
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【英文标准名称】:Preparationofdocumentsusedinelectrotechnology-Part1:Rules(IEC61082-1:2006);GermanversionEN61082-1:2006
【原文标准名称】:电工技术文件编制.第1部分:规则
【标准号】:EN61082-1-2006
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:2007-03
【实施或试行日期】:2007-03-01
【发布单位】:欧洲标准学会(EN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:基础;线路图;分类系统;定义;图示;文献加工;文献工作;文献;图纸;加工作用;电气工程;电力设备;工程图;设置;一般条件;指导手册;制作原理;编写;表示法;规范(验收);表(数据);布线图
【英文主题词】:Basis;Circuitdiagrams;Classificationsystems;Definition;Definitions;Diagrams;Documentprocessing;Documentations;Documents;Drawings;Elaboration;Electricalengineering;Electricalinstallations;Engineeringdrawings;Establishment;Generalconditions;Guidebooks;Principlesofexecution;Representations;Specification(approval);Tables(data);Wiringdiagrams
【摘要】:
【中国标准分类号】:K01
【国际标准分类号】:01_110;29_020
【页数】:113P.;A4
【正文语种】:英语


基本信息
标准名称:太阳能电池用硅单晶切割片
英文名称:Mono-crystalline silicon as cut slices for photovoltaic solar cells
中标分类: 冶金 >> 半金属与半导体材料 >> 半金属与半导体材料综合
ICS分类: 电气工程 >> 半导体材料
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期:2011-01-10
实施日期:2011-10-01
首发日期:2011-01-10
作废日期:
主管部门:全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC 2)
归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC 2)
起草单位:万向硅峰电子股份有限公司、上海九晶电子材料股份有限公司、西安隆基硅材料股份有限公司、洛阳鸿泰半导体有限公司、无锡尚德太阳能电力有限公司、江西赛维LDK 太阳能有限公司、杭州海纳半导体有限公司
起草人:楼春兰、郑辉、蒋建国、张群社、孙世龙、黄笑容、王飞尧、段育红、朱兴萍、方强、汪贵发、余俊军、袁文强、金虹
出版社:中国标准出版社
出版日期:2011-10-01
页数:12页
适用范围

本标准规定了太阳能电池用硅单晶切割片的技术要求、试验方法、检验规则和标志、包装、运输、贮存及质量证明书与订货单内容。
本标准适用于直拉法(CZ/MCZ)制备的地面太阳能电池用硅单晶切割片。

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引用标准

下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T1550 非本征半导体材料导电类型测试方法
GB/T1552 硅、锗单晶电阻率测定 直排四探针法
GB/T1555 半导体单晶晶向测定方法
GB/T2828.1 计数抽样检验程序 第1部分:按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划
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GB/T6620 硅片翘曲度非接触式测试方法
GB/T11073 硅片径向电阻率变化的测量方法
GB/T14140 硅片直径测量方法
GB/T14264 半导体材料术语
GB/T25076 太阳电池用硅单晶
GB/T26068 硅片载流子复合寿命的无接触微波反射光电导衰减测试方法

所属分类: 冶金 半金属与半导体材料 半金属与半导体材料综合 电气工程 半导体材料

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